Раздельное наблюдение за двумя параметрами

Расстояние между точками пересечения эллипса с вертикальной осью пропорционально величине вектора разности э. д. с. измерительных катушек, умноженной на синус угла <р между линиями АОВ и СОД, т. е. проекции ОМ разности э. д. с. измерительных катушек на направление, перпендикулярное к линии, как это видно из, равен разности углов аир. Зависимость угла т параметра х2. Проекция ОМ зависит только от изменения электропроводности и поэтому величина ее может количественно характеризовать, насколько отличается электропроводность исследуемого образца от электропроводности эталона.

Когда исследуемое изделие изменяется по отношению к эталонному не только по электропроводности, но и по размеру, то разность э. д. с. измерительных катушек ОР будет иметь кроме составляющей ОР , направленной по линии АОВ, другую составляющую 0Р2, направленную по линии СОД. По сравнению с предыдущим случаем форма эллипса изменится, но отсечка его по вертикальной оси, пропорциональная проекции ОМ, остается прежней, поскольку дополнительная составляющая ОРг, перпендикулярная к проекции ОМ, не изменяет величины последней. Таким образом, при подаче на пластины горизонтального отклонения луча напряжения, сдвинутого на угол ? по отношению к оси активных напряжений, в случае одновременного изменения электропроводное и радиуса, отсечка эллипса по вертикальной оси будет характеризовать только изменение электропроводности независимо от изменения радиуса.

Такое же рассуждение можно провести и для определения изменения радиуса при одновременном изменении электропроводности и радиуса. В этом случае на пластины горизонтального отклонения луча подается напряжение, совпадающее с направлением АОВ. При той же разности э. д. с. измерительных катушек (ОР) проекции ее ON на направление, перпендикулярное к направлению АОВ, будет характеризовать количественно только изменение радиуса изделия (ON = 0Р2 sin?).